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參考組件對(duì)IV曲線測(cè)試的關(guān)鍵影響及解決方案
點(diǎn)擊次數(shù)：525 更新時(shí)間：2025-02-11
參考組件對(duì)IV曲線測(cè)試的關(guān)鍵影響及解決方案
不同材料的太陽(yáng)能電池量子效率曲線（光譜響應(yīng)范圍）不一樣。晶硅電池的光譜響應(yīng)范圍很寬，但在紫外波段的量子效率并不高，薄膜電池紫外波段的量子效率雖高，但整體光譜響應(yīng)范圍很窄。
不同材料太陽(yáng)能電池的外量子效率曲線
因此，參考組件對(duì)IV曲線測(cè)試很重要，建議使用與待測(cè)組件相同材料或相同光譜響應(yīng)范圍的參考組件進(jìn)行IV曲線測(cè)試。
德國(guó)GMC-I高美測(cè)儀的IV曲線測(cè)試儀能提供晶硅和非晶硅薄膜的參考組件，通過(guò)加KG濾光片的方式，可以用于晶硅、碲化鎘和鈣鈦礦等不同光伏組件的IV曲線測(cè)試。
不同KG濾光片的光譜響應(yīng)
