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HAL系列安規(guī)測(cè)試儀快速入門手冊(cè)（二）

點(diǎn)擊次數(shù)：1245 更新時(shí)間：2023-04-10

圖780.png

要執(zhí)行的測(cè)試，在本例中是 50Hz 接地測(cè)試。
測(cè)試代碼-測(cè)試代碼表示要以代碼格式執(zhí)行的測(cè)試，詳細(xì)信息請(qǐng)參閱用戶手冊(cè)。
EXT IO -外部控制端口配置。如果需要，允許用戶啟用數(shù)字輸出和模擬輸入。
測(cè)試時(shí)間- HAL 系列允許三個(gè)測(cè)試時(shí)間，(從上到下分別)， Ramp Up Time, Hold(測(cè)試)Time 和 Ramp Down Time。
測(cè)試電流-用戶可選擇測(cè)試電流。
限值：上限和下限設(shè)置。
測(cè)試數(shù)量-用戶可以選擇要執(zhí)行的測(cè)試數(shù)量，1 到 5 在單個(gè)步驟，5 - 20 在 5 步，或UL 無(wú)限重復(fù)次數(shù)(即用戶希望執(zhí)行多少次)。
開(kāi)始條件-為了開(kāi)始測(cè)試必須執(zhí)行的動(dòng)作。在這個(gè)例子中，測(cè)試將通過(guò)開(kāi)始按鈕(或按下接地)啟動(dòng)。請(qǐng)參考手冊(cè)了解進(jìn)一步的開(kāi)始條件，注意開(kāi)始條件下面的 123 符號(hào)表示必須對(duì)所有重復(fù)執(zhí)行開(kāi)始動(dòng)作。

圖783.png

要進(jìn)行的測(cè)試在本例中是功率和泄漏測(cè)試。注意功率和泄漏將顯示為 PWR+TLEAK。
測(cè)試代碼-測(cè)試代碼表示要以代碼格式執(zhí)行的測(cè)試，詳細(xì)信息請(qǐng)參閱用戶手冊(cè)。
EXT IO -外部控制端口配置，允許用戶啟用數(shù)字輸出和模擬輸入，如果需要。
測(cè)試時(shí)間-測(cè)試將運(yùn)行的時(shí)間長(zhǎng)度，可以設(shè)置為無(wú)上限由用戶控制。
電源測(cè)量測(cè)試電壓-用戶可以選擇電源測(cè)量的上限和下限
極性選項(xiàng)-用戶可以定義 HAL 是否在標(biāo)準(zhǔn)極性或標(biāo)準(zhǔn)和反轉(zhuǎn)下執(zhí)行負(fù)載/泄漏測(cè)試，其中 HAL 自動(dòng)切換活/中性極性并執(zhí)行負(fù)載測(cè)試。
功率因數(shù)測(cè)量-用戶可以選擇功率因數(shù)測(cè)量的上限和下限。
泄漏測(cè)量-用戶可以選擇地球或觸摸泄漏的上限和下限。
測(cè)試次數(shù)-用戶可以選擇要執(zhí)行的測(cè)試次數(shù)，1 到 5 的單步，5- 20 的 5 步，或 UL 無(wú)限重復(fù)次數(shù)(即用戶希望執(zhí)行多少次)。

圖785.png

后端口絕緣電阻僅限型號(hào)HAL103/104/LED）：接地類，測(cè)試輸出插座中 L&N 系在一起與接地導(dǎo)體之間的連接；雙層絕緣類產(chǎn)品，L&N 綁在一起和 HT 探針或夾子之間連接。

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功率和泄漏電流測(cè)量(HAL104/LE D專用)：電壓選擇開(kāi)關(guān)如果使用 HAL 為測(cè)試提供電源電壓，請(qǐng)確保將搖桿開(kāi)關(guān)置于正常位置。如果使用外部電源，請(qǐng)確保設(shè)備后部的搖臂開(kāi)關(guān)置于 AUX 位置。測(cè)試輸出插座中帶電、中性和接地導(dǎo)體之間連接。

圖786.png

功率和接觸泄露電流測(cè)量(HAL104/LE D專用)：電壓選擇開(kāi)關(guān)如果使用 HAL 為測(cè)試提供電源電壓，請(qǐng)確保將搖桿開(kāi)關(guān)置于正常位置。如果使用外部電源，請(qǐng)確保設(shè)備后部的搖臂開(kāi)關(guān)置于 AUX 位置。測(cè)試輸出插座中的帶電中性導(dǎo)線與接地連接探針之間的連接。

圖787.png